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高頻介電常數(shù)介質損耗因數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關、學校、工廠等單位。

1．Q值測量 a．Q值測量范圍：2～1023； b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔； c．標稱誤差 頻率范圍25kHz～10MHz100kHz～10MHz 固有誤差≤5％±滿度值的2%≤5％±滿度值的2% 工作誤差≤7％±滿度值的2%≤7％±滿度值的2% 頻率范圍10MHz～60MHz10MHz～160MHz 固

介電常數(shù)介質損耗測試儀裝置： 2.3.1 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種. 2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圓筒電容器可調范圍：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm 2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10

材料高頻介電常數(shù)測定儀 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種. 2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圓筒電容器可調范圍：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm 2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4

介電常數(shù)測試儀

介電常數(shù)測試儀/介質損耗因數(shù)和電容率測試儀的詳細描述： 電： / 介電常數(shù)介質損耗試驗儀滿足標準：GBT1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法 概述 A型高頻Q表和C型高頻Q表主要區(qū)別 AC 測試頻率范圍25kHz～60MHz100kHz～160MHz

固體材料介電常數(shù)介質損耗測試儀

材料介電常數(shù)測定儀

介電常數(shù)介質損耗測試儀主要技術指標： 2.1 tanδ和ε性能： 2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。 2.1.2 tanδ和ε測量范圍： tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50 2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）： tanδ：±5%±0.00005，ε：±2% 工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數(shù)顯，壓控振蕩器 Q值